Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
Самовосстанавливающийся чип
Европейская наука приближает день, когда устройства смогут самовосстанавлливаться.
Ученые не сидят, сложа руки и предвидя момент, когда размеры транзисторов и чипов станут настолько малы, что не смогут сохранять текущий уровень устойчивости к внешним воздействиям, придумали, как решить проблему. Далее...

Чип

спеклы

СПЕКЛЫ (от англ. speckle - пятнышко, крапинка) - пятнистая структура в распределении интенсивности когерентного света, отражённого от шероховатой поверхности, неровности к-рой соизмеримы с длиной волны света8053-31.jpg, или прошедшего через среду со случайными флуктуациями показателя преломления. С. возникают вследствие интерференции света, рассеиваемого отд. шероховатостями объекта. Т. к. поверхность предмета освещается когерентным светом, то интерферируют все рассеянные лучи и интерференц. картина имеет не периодическую, а хаотич. структуру. На рис. 1 представлена фотография спекл-структуры, возникающей при рассеянии высокоинтенсивного (лазерного) пучка света, проходящего через матовое стекло.

Можно различить два случая образования С.- в пространстве предметов и в пространстве изображений. В пространстве предметов возникают т. н. о б ъ е к т и в н ы е С. Свет от лазера (рис. 2) освещает шероховатую, диффузно рассеивающую поверхность; полная амплитуда световой волны в точке наблюдения является суммой векторов амплитуд волн, рассеянных всеми точками освещённой поверхности. Эти волны имеют случайные фазы, и в результате их сложения получается случайная результирующая амплитуда. При изменении координат точки наблюдения полная амплитуда (и интенсивность) принимает различные, также случайные значения, что и обусловливает появление С. Поперечное смещение точки наблюдения (без изменения расстояния до рассеивающей поверхности) ведёт к быстрому изменению разности хода между интерферирующими волнами и, соответственно, к мелкомасштабным изменениям интенсивности. Продольное смещение точки наблюдения ведёт к относительно медленным изменениям разности хода и, соответственно, к относительно крупномасштабным флуктуациям интенсивности. Др. словами, отдельные С. имеют вытянутую вдоль направления наблюдения сигарообразную форму.
8053-32.jpg

Рис. 1. Фотография объективных спеклов.
8053-33.jpg

Рис. 2. Схема образования объективной спекл-структуры: Л - лазер; РП - рассеивающая поверхность; S - точка наблюдения.

Средний поперечный диаметр спекла
8053-34.jpg

где8053-35.jpg - угл. диаметр освещённой когерентным светом шероховатой поверхности. Средний продольный размер спекла
8053-36.jpg

В пространстве изображений образуются т. н. субъективные С. При наблюдении субъективных С. изображение предмета оказывается промодулированньш спекл-структурой. В этом случае ср. размеры С. также описываются ф-лами (1) и (2), где8053-39.jpg - угл. размеры линзы, образующей изображение (рис. 3). Субъективные С. обусловлены интерференцией волн, исходящих из всех элементов микроструктуры поверхности объекта в пределах пятна разрешения оптич. системы, т. е. предполагается, что оптич. система не разрешает микроструктуру поверхности.
8053-37.jpg

Рис. 3. Схема образования субъективной спекл-структуры (структуры изображения): Л - лазер; РП - рассеивающая поверхность; L - линза; S - точка изображения.
8053-38.jpg

Рис. 4. Гало дифракции с полосами Юнга.

Спекл-структура изображений проявляется как при фотографировании в когерентном свете, так и в голографии. В последнем случае размеры С. также определяются по ф-лам (1) и (2), где8053-40.jpg- угл. размеры голограммы.

Спеклы мешают рассматриванию объектов, освещённых когерентным светом, поэтому для их устранения используют разл. методы, сводящиеся либо к существ. уменьшению размеров С., либо к усреднению спекл-структуры во времени при случайном изменении распределения фазы волны, освещающей объект (или голограмму). Но С. имеют и широкое практич. применение в спекл-фотографии и спекл-интерферометрии [1-3, 5] для регистрации перемещений и деформаций объектов с диффузной поверхностью, для измерения шероховатостей поверхности, в астрономии для измерения видимого диаметра звёзд и при изучении двойных звёзд.

Простейший вариант спекл-фотографии сводится к фотографированию объекта на одну и ту же фотопластинку до и после смещения или деформации. При освещении полученной таким способом спекл-фотографии нерасширенным лазерным пучком в дальней зоне наблюдается гало дифракции с полосами Юнга (рис. 4), ориентация и период к-рых определяются направлением и величиной смещения объекта между экспозициями. При изменениях микроструктуры объекта между экспозициями, что может быть обусловлено эрозией или коррозией поверхности, контактными взаимодействиями с др. телами, износом и т. д., идентичность спекл-структур, образованных объектом до и после смещения, нарушается и контраст полос Юнга уменьшается, что используют для изучения указанных явлений.

Кроме фотогр. вариантов спекл-фотографии и спекл-интерферометрии развивают и электронные варианты этих методов, к-рые сводятся к электронной записи и сравнению спекл-структур, записанных до и после изменений, произошедших с объектом, напр. с помощью телевиз. систем [2, 3].

Лит.: 1) Франсон М., Оптика спеклов, пер. с франц., М., 1980; 2) Laser speckle and related phenomena, ed. by J. C. Dainty, 2 ed., В.-[a. o.], 1984; 3) Д ж о у н с Р., Уайкс К., Голографическая и спекл-интерферометрия, пер. с англ., М., 1986; 4) В е с т Ч., Голографическая интерферометрия, пер. с англ., М., 1982; 5) Клименко И. С., Голография сфокусированных изображений и спекл-интерферометрия, М., 1985; 6) Оптическая голография, под ред. Г. Колфилда, пер. с англ., т. 1-2, М., 1982; 7) Ostrovcky Yu. I., Shchepinov V. P., Yakovlev V. V., Holographic interferometry in experimental mechanics, B.- Heidelberg - N. Y., 1990. Ю. И. Островский.

  Предметный указатель