Стартовая Предметный указатель Новости науки и техники
Новости науки и техники
Процессоры INTEL — история успеха
А начиналось все в далеком 1971 году, когда малоизвестная компания "Intel Corporation" получила от одной из японских корпораций заказ на разработку и изготовление набора логических микросхем для настольного калькулятора. Вместо этого, по инициативе инженеров "Intel", на свет появился первый четырехбитный микропроцессор 4004 Далее...

Intel corp.

взрывная электронная эмиссия

ВЗРЫВНАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ - возникновение электронного тока из металлич. эмиттера вследствие перехода материала эмиттера из конденсир. фазы в плотную плазму в результате разогрева локальных микроскопич. областей эмиттера током автоэлектронной эмиссии. В. э. э. используется в импульсных генераторах мощных электронных пучков и рентг. лучей, то единств. вид электронной эмиссии, к-рый позволяет получать потоки электронов мощностью до 1013 Вт с плотностью тока до 109 А/см2. Плотность тока термоэлектронной эмиссии ограничена темп-рой плавления эмиттера. Повышение плотности тока j при фотоэлектронной эмиссии требует столь мощных источников излучения, что это приводит к разрушению поверхности эмиттера. С помощью автоэлектронной эмиссии принципиально возможно получение j~106-108 А/см2, но для этого нужны эмиттеры в виде совокупности большого числа острий идентичной формы, что практически невозможно. Кроме того, увеличение j до 108 А/см2 приводит к взрывообразному разрушению всего эмиттера.

Для получения В. э. э. необходимо создать на поверхности эмиттера первонач. фазовый переход металл- плазма, к-рый бы обеспечил ток электронов, способный затем поддерживать этот переход. Такой переход создаётся посредством концентрации большой энергии в микрообъёме эмиттера, достаточной для взрыва этого объёма. Большая концентрация энергии в микрообъёме может осуществляться разл. способами, напр. ударом быстрой макрочастицы о катод, с помощью сфо-кусир. луча лазера и т. д. Наиб. часто для инициирования В. э. э. используется автоэлектронная эмиссия. Ток автоэлектронной эмиссии разогревает микрообъём эмиттера за счёт джоулева тепла и Ноттингема эффекта. Оба эти эффекта приводят к повышению электронной темп-ры Те (к "разогреву" электронов; см. Горячие электроны ).Темп-pa кристаллич. решётки повышается в результате электронно-фононного взаимодействия. Время запаздывания t3 взрыва кончика острия относительно подачи импульса напряжения определяется скоростью передачи энергии от электронного газа к решётке. Это создаёт возможность для получения мощных кратковременных импульсов электронного тока без разрушения эмиттера.

Время запаздывания tз связано с плотностью электронного тока j соотношением

1119914-227.jpg

где А - постоянная (в широком интервале /), характерная для материала эмиттера, напр. для W А =4*109 А2 с/см4. Поэтому при j=109 А/см2 t3 = 10-9 с, что достигается при электрич. поле Е~108 В/см. Поле такой величины можно получить вблизи поверхности очень тонкого металлич. острия. Однако В. э. э. возникает и на плоских эмиттерах и при меньших полях (E ~ ~105 в/см) из-за того, что на их поверхности обычно имеются диэлектрич. включения, плёнки и микроско-пич. выступы. В результате в отд. точках поверхности поле увеличивается в неск. раз, и работа выхода электронов снижается.

После взрыва микрообъёма эмиттера образуется т. н. катодный факел, состоящий из плазмы и паров материала эмиттера. Распределение концентрации частиц в плазме в катодном факеле неоднородно (у поверхности превышает 1020 см-3 и уменьшается по мере удаления от неё). Плазма расширяется, заполняя вакуумный промежуток. В нач. период (t<10-7 с) скорость 1119914-228.jpg разлёта плазмы для большинства металлов составляет (1-3)*106 см/с, а затем уменьшается больше чем на порядок. Расширение факела сопровождается интенсивной электронной эмиссией из плазмы. Электроны покидают факел, пересекают вакуумный промежуток и попадают на анод.

Расчёт тока В. э. э. (без учёта релятивистских эффектов и магн. поля, создаваемого пучком) приводит к ф-ле:

1119914-229.jpg

где В - константа, U - разность потенциалов между фронтом плазмы и анодом, F - ф-ция аргумента 1119914-230.jpg , где d - расстояние между электродами, 1119914-231.jpg- радиус плазменного сгустка, t - время. Ф-ция F определяется геометрией вакуумного промежутка. Для случая, когда факел образуется на кончике острия эмиттера при 1119914-232.jpg ф-ция 1119914-233.jpg, где С=37*10-6 ab3/2 и b - радиусы анода и острия). В процессе разлёта плазмы её концентрация снижается (ср. концентрация частиц в плазме при токе ~100 А за время от 5 до 20 нc от начала В. э. э. уменьшается с 1017 до 5*l015 см-3). Когда она снизится настолько, что пропускаемый ею ток сравняется с током, определяемым Ленгмюра формулой, скорость движения её границы замедлится. Это приведёт к замедлению роста тока по сравнению с ф-лой Ленгмюра. В этом случае электронный ток будет равен термоэлектронному току плазмы (режим насыщения).

По истечении нек-рого времени с момента образования факела, когда плотность тока, отбираемого из плазмы, достигает величины ~102 А/см2, насыщение сменяется неустойчивым режимом, для к-рого характерно появление хаотич. всплесков тока [их амплитуда в 2-3 раза превосходит ток, определяемый ф-лой (2), а длительность 10-8 с]. Выход электронов из эмиттера в плазму обусловлен термоавтоэлектронной эмиссией под действием электрич. поля, возникающего на границе эмиттер - плазма. Когда это поле достигает (0,6-1)*108 В/см, это приводит к новому акту взрыва. Описанная выше картина имеет место, если ток насыщения ~10 А. При меньших токах (~1-2А) фаза насыщения может завершиться обрывом тока, т. к. процессы отбора тока электронов с катода при В. э. э. и генерации плазмы на катоде, создающие условия для В. э. э., взаимосвязаны: чем меньше ток, тем меньше генерируется плазмы. Существует пороговый ток, ниже к-рого В. э. э. не развивается.

На базе В. э. э. созданы т. н. сильноточные вакуумные диоды, генерирующие мощные импульсы электронного тока. Предельная длительность импульса тока ограничена временем, в течение к-рого происходит замыкание вакуумного промежутка плазмой. Обычно это 10-7 с. Плотность тока достигает 107 А/см2. Такие диоды применяются для исследования плазмы, радиац. дефектов в кристаллах для генерации

СВЧ-, рентг. и ИК-излучений, для накачки газовых лазеров. В генераторах электронных пучков электроны через полый анод выводятся за пределы диода. В генераторах рентг. импульсов они направляются на установленную на аноде мишень.

Лит.: Mесяц Г. А., Фурсеq Г. H., Взрывная электронная эмиссия начальных стадий вакуумных разрядов, в кн.: Ненакаливаемые катоды, под ред. M. И. Елинсона, M., 1974; Бугаев С. П. и др., Взрывная эмиссия электронов, "УФН", 1975, т. 115, с. 101; Месяц Г. А., Первичные и вторичные процессы взрывной электронной эмиссии, "Ж. прикл. мех. и техн. физ.", 1980, № 5, с. 138. Г. А. Месяц.

  Предметный указатель