| РОЖДЕНИЕ ПЛАНЕТНовые снимки пылевых дисков дают более ясное представление о том, как развиваются миры вокруг звезд, похожих на наше Солнце. Космический телескоп «Хаббл» сфотографировал освещенные звездой осколки астероидов и комет, обращающиеся вокруг желтого карлика HD 107146. Далее... | 
 | 
алмаз
 АЛМАЗ  (тюрк. алмас, от греч. adamas - несокрушимый) - аллотропная модификация углерода, кристаллич. решётка к-рой относится к кубич. сингонии (см. ниже). А. стабилен при высоких давлениях и метастабилен при нормальных условиях, хотя и может при них существовать неопределённо долго. При нагревании он переходит в графит (темп-pa перехода составляет для синтетич. микропорошков 450-500°С, для кристаллов размерами от 0,6 до 1 мм - 600-700°С и зависит от совершенства структуры, кол-ва и характера примесей). Принято считать, что кристаллы природного А. сгорают в воздухе при темп-ре св. 850°С, в потоке О2 - св. 750°С.
 Атомы углерода в структуре А. образуют 
  четыре кова-лентные связи с валентным углом 109°28' (направление связей 
  совпадает с осями L3 тетраэдра). Ср. значение пост. решётки 
  
 (при темп-ре 25°С и давлении 1 атм) и возрастает при нагревании. Элементарная 
  ячейка А. образована атомами, расположенными по вершинам куба, в центре его 
  граней (рис. 1, атомы 1, 5, 7) и в центрах четырёх несмежных октантов куба (атомы 
  6, 4, 2, 8). Каждый атом С находится в центре тетраэдра, вершинами к-рого служит 
  четыре ближайших атома. В природе А. встречается в виде отд. кристаллов, сростков, 
  агрегатов (бесцветных или окрашенных), а также поликристаллич. образований (баллас, 
  карбонадо). Физ. и механич. свойства, окраска, скульптура поверхности обусловлены 
  прежде всего дефектами кристаллич. решётки,
 
  (при темп-ре 25°С и давлении 1 атм) и возрастает при нагревании. Элементарная 
  ячейка А. образована атомами, расположенными по вершинам куба, в центре его 
  граней (рис. 1, атомы 1, 5, 7) и в центрах четырёх несмежных октантов куба (атомы 
  6, 4, 2, 8). Каждый атом С находится в центре тетраэдра, вершинами к-рого служит 
  четыре ближайших атома. В природе А. встречается в виде отд. кристаллов, сростков, 
  агрегатов (бесцветных или окрашенных), а также поликристаллич. образований (баллас, 
  карбонадо). Физ. и механич. свойства, окраска, скульптура поверхности обусловлены 
  прежде всего дефектами кристаллич. решётки,
 
Рис. 1.
наличием примесей и включений, т. е. 
  в конечном счёте условиями роста кристаллов.
 Наиболее распространённая гипотеза генезиса 
  природных алмазов утверждает их глубинное (магматич.) происхождение при давлениях 
  св. 4 ГПа и темп-рах более 1000°С. Однако включения кальцита, кварца, барита, 
  биотита, обнаруженные в А., ставят под сомнение единственность этой гипотезы.
 Теоретич. предпосылки получения А. искусств. 
  путём были научно обоснованы в кон. 30-х гг. 20 в. Син-тетич. А. впервые воспроизводимо 
  получен в Швеции (1953), затем 
  в США (1954) и СССР (1959).
 
 
 Рис. 2. Фазовая р - Т-диаграмма 
  углерода: 1 - область синтеза алмаза с применением металлов - растворителей-катализаторов 
  (Ia - область выращивания крупных кристаллов на затравку); 2 - область 
  экспериментальных работ по превращению графита в алмаз статическим методом при 
  прямом переходе; 3,7 - области экспериментальных работ по превращению 
  графита в алмаз динамическим методом (7 - метод фирмы "Дюпон"); 
  4 - область экспериментальных работ по кристаллизации алмаза из расплавленного 
  углерода; 5 - область изучения некаталитического превращения в алмаз 
  элементарного углерода, находящегося в различных состояниях, и органических 
  соединений; 6 - область образования лосдейлита; 8 - область кристаллизации 
  алмаза в метастабильных условиях. Т - тройная точка графит - алмаз - жидкий 
  углерод; Т' - предполагаемая тройная точка жидкий углерод - алмаз - 
  металлический углерод. Точки 
  на диаграмме состояния отвечают тем температурам и давлениям, от которых производится 
  сброс температуры (закалка образцов) для сохранения образовавшейся фазы.
  Наиболее распространён метод синтеза 
  А. из графита при статич. давлениях высоких. Синтез происходит в области 
  термодинамич. устойчивости А., т.е. при давлениях 4-10 ГПа и темп-рах 1000-2500°С, 
  в присутствии металлов, выполняющих роль растворителей-катализаторов, в течение 
  времени от 10-15 с до 1 ч (размеры получаемых монокристаллов от 0,1 до 1,5 мм 
  по ребру октаэдра; более крупные А.-8-10 мм - выращивают на затравку св. 100 
  ч). По истечении времени синтеза для предотвращения обратного перехода А. в 
  графит темп-ру резко снижают, и новая фаза фиксируется. Синте-тич. А. образуются 
  также при действии динамич. высокого давления ок. 30 ГПа и темп-ры ~ 3000 °С 
  и выше (размеры получаемых этим методом А. -10-30 мкм). В метастабильных для 
  А. условиях при давлениях от неск. сотен ГПа до неск. Па и темп-рах 600-800 
  °С синтез ведут из газовой фазы (метан, пропан, двуокись углерода и т. п.), 
  как правило на затравку (эпитаксиальное наращивание). При статич. давлении более 
  11 - 13 ГПа и темп-ре выше 2500 °С возможно превращение графит - алмаз без 
  введения активирующих добавок, а также получение А. из расплава углерода (рис. 
  2). Синтетич. А. выпускают в виде микропорошков, монокристаллов, поликристаллич. 
  структур (баллас, карбонадо), алмазных спеков и пластин с металлич. подложкой.
 Первая классификация А., в основу к-рой 
  положено содержание в нём азота, была предложена в кон. 30-х гг. и уточнена 
  в кон. 50-х гг. В соответствии с этой классификацией большинство А. (~98%) относится 
  к типу I - содержание азота до 0,2%. К типу II принадлежат А., содержащие не 
  более 10-3 % азота. А. I и II типов подразделяются на подгруппы. 
  А. подгруппы Iа содержат азот в непарамагнитной форме, А -дефекты и др. 
  азотсодержащие дефекты сложного строения. А. подгруппы Iб содержат одиночные 
  замещающие атомы азота. А. подгруппы а прозрачны до длин волн ~320-330 мкм, Iб - в области
 
  ~320-330 мкм, Iб - в области  . 500-550 мкм и имеют максимум поглощения при
 
  . 500-550 мкм и имеют максимум поглощения при  270 
  мкм. А. II типа также делятся на две подгруппы: Па (безазотные А.) и IIб (А., 
  содержащие примеси, ответственные за полупроводниковые свойства, в частности 
  В). Выделяют также А. типа III, к к-рому относят А., характеризующиеся наличием 
  В1-дефектов. А. этого типа поглощают излучение в области l~225-240 
  мкм. А. I и III типов характеризует поглощение ИК-излучения в области l~7-11 
  мкм.
270 
  мкм. А. II типа также делятся на две подгруппы: Па (безазотные А.) и IIб (А., 
  содержащие примеси, ответственные за полупроводниковые свойства, в частности 
  В). Выделяют также А. типа III, к к-рому относят А., характеризующиеся наличием 
  В1-дефектов. А. этого типа поглощают излучение в области l~225-240 
  мкм. А. I и III типов характеризует поглощение ИК-излучения в области l~7-11 
  мкм.
 Физ. свойства А. связаны с его структурой 
  и содержанием примесей, кол-во к-рых в природных А. достигает 5%, в синтетических 
  8-10%. В качестве структурных примесей достоверно зафиксированы N, В, Ni. В 
  процессе синтеза можно легировать А. путём введения в шихту разл. добавок. Спайность 
  граней А. по (111) совершенная. Критич. напряжение скалывания по (111) -10,5b0,1 
  ГПа, по (100) -13,5b0,1 ГПа. Предел прочности на сжатие кристаллов синтетич. 
  А. без видимых включений 17-17,5 ГПа. А. имеет максимальную среди всех известных 
  материалов твёрдость, к-рая превышает твёрдость корунда в 150 раз. Кристалл 
  А. анизотропен, для разных граней его твёрдость различна [для грани (111) природного 
  А.- 110-135 ГПа, для (100)-56-60 ГПа; для грани (111) синтетического А.-91-101 
  ГПа, для (100)-60- 68 ГПа].
 Кристалл А., имеющий мин. кол-во примесей 
  (А. "чистой воды"), прозрачен для излучения в видимой части спектра 
  и встречается редко. Чаще всего А. окрашены в разл. цвета - от жёлтого до серого 
  и чёрного. Синтетич. А. обычно зелёные. Введение примесей в исходную шихту позволяет 
  изменять цвет синтетич. А.
 Теплопроводность нек-рых А. при комнатной 
  темп-ре выше теплопроводности меди в 4 раза; ср. её значения при 180°С (Вт/м-К) 
  для А. типа Iа-800, для Па- 1250, 
  для IIб-1260, 
  для синтетич. монокристаллов - 660, поликристаллов - 400. Уд. электрич. сопротивление 
  А. типа Пб (полупроводниковые) составляет 1 - 108 Ом*см, А. др. типов 
  -до 1010 Ом*см. Показатель преломления в пределах одного кристалла 
  может быть различен; ср. значение его для природных А. 2,4165, для синтетич. 
  А. 2,4199 (для кристалла октаудрич. формы). Угловая дисперсия для природных 
  и синтетич. А. одинакова - 0,063. Отражат. способность 0,172. Кристаллы А. практически 
  всегда обладают дву-преломлением - вследствие разл. деформаций кристаллов и 
  особенностей текстуры.
 Как правило, кристаллич. А. люминесцирует 
  под действием УФ-излучения, рентгеновского и  -излучений, 
  а также пучков быстрых частиц.
-излучений, 
  а также пучков быстрых частиц.
 А. применяют в разл. инструментах для 
  обработки цветных металлов и сплавов, в буровой технике, камне-обработке, ювелирной 
  пром-сти. В физике и электронике используют полупроводниковые свойства алмаза, 
  в аппаратах высокого давления - его твёрдость и прозрачность. В решётке типа 
  алмаза кристаллизуются Si, Ge, серое олово, а также ряд соединений (CuF, BeS, 
  CuCl, ZnS - решётка типа цинковой обманки).
 Лит.: Шафрановский И. И., Алмазы, 
  М--Л., 1964; Орлов Ю. Л., Минералогия алмаза, М., 1973; Клюев Ю. А., Непша В. 
  И., Дуденков Ю. А., О физической классификации алмазов, "Тр. ВНИИ Алмаза", 
  1974, № 3; Безруков Г. Н., Бутузов В. П., Самойлович М. И., Синтетический алмаз, 
  М., 1976; Алмаз, К., 1981; Верещагин Л. Ф., Синтетические алмазы и гидроэкструзия, 
  М., 1982. Г. Я. Безрукое.




 
				
 webmaster@femto.com.ua
 webmaster@femto.com.ua